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评价1GDRAM的技术及设备
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摘要
本文介绍了1GDRAM的电性能，论述了评价1GDRAM的技术及设备。
作者
翁寿松
机构地区
中国华晶电子集团公司无锡市无线电元件四厂
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
1998年第3期46-48,共3页
Electronic Product Reliability and Environmental Testing
关键词
1GDRAM
评价
半导体产业
圆片制造
分类号
TN30 [电子电信—物理电子学]
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电子产品可靠性与环境试验
1998年 第3期
职称评审材料打包下载
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