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低温PECVD法制备半导体的复合钝化膜

Preparation Compound Passivation Film of Semiconductor by Low Temperature PECVD Means
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摘要 本文主要是以SiH4、N2O和Si3H4、NH3、N2作为气体源,在平行板电容耦合式淀积设备上,采用等离子增强化学气相淀积(PECVD)法制备SiO2-Si3N4复合钝化膜。 The article' s main content is preparation SiO2-Si3N4 compound passivation film by plasma enhance chemical vapour gas phase deposition ( PECVD ) means, of SiH4 , N2O and Si3H4. , NH3,N2etc.for gas source on parallel board condenser coupled model deposition installation.
作者 刘冰 李宁
出处 《山东电子》 1998年第2期35-36,共2页 Shandong Electronics
关键词 钝化 淀积 腐蚀 复合纯化膜 半导体器件 PECVD法 Passivation Plasma Deposition Etch
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