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S校正电容器损耗测试频率分析 被引量:1

Analysis of the DF test frequency for capacitors in S correction circuits.
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摘要 通过试验和分析说明彩电用S校正电容器tgδ的测试频率为1kHz是不合适的,应选用更高一些的频率。当选用10kHz测试,tgδ控制在40×10-4以下比较合适。 Test results show that DF test frequency for capacitors in S correction circuits in color TV sets should not higher than 1 kHz, and when the frequency being 10 kHz , tgδ shoud be lower than 40×10 4 .(no refs )
作者 储松潮
出处 《电子元件与材料》 CAS CSCD 1998年第3期36-37,39,共3页 Electronic Components And Materials
关键词 金属化 聚丙烯电容器 S校正 损耗-频率特性 metallized polypropylene capacitors, S correction, DF frequency characteristic
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