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印制板级边界扫描接口线的测试 被引量:2

Board Testing forBoundary Scan Test Port
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摘要 边界扫描设计正逐步成为可测性设计的主流。本文首先简要介绍边界扫描器件的结构,然后详细讨论印制板级边界扫描接口线的故障模型和测试原理,并给出相应的测试电路和测试算法。最后通过一个测试实例说明测试算法的时间特性。 The boundary scan design, which is becoming a dominant method of testable design, is briefly introduced. The fault models and test principles for board boundary scan port lines are then discussed in detail. This paper also presents the testing circuit and algorithm for the port lines. Finally the time performance of the testing algorithm is illustrated with an example.
作者 臧春华
出处 《数据采集与处理》 CSCD 1998年第1期46-50,共5页 Journal of Data Acquisition and Processing
关键词 印制板级 边界扫描 接口线 测试 数字集成电路 fault detection test circuits digital integrated circuits boundary scan design board test
  • 相关文献

同被引文献4

  • 1[3] Supplement to IEEE1149.1 Std 1149.1-1990, IEEE Standard Test Access Port a nd Boundray-Scan Architecture[S], IEEE Std 1149.1b-1994
  • 2陈光禹 潘中良.可测试性设计技术[M].北京:电子工业出版社,1997..
  • 3陈光禹 潘中良.可测试性设计技术[M].北京:电子工业出版社,1997..
  • 4李桂祥,杨江平,王隆刚.基于边界扫描技术的板级BIT设计及测试策略[J].现代雷达,2003,25(6):1-4. 被引量:11

引证文献2

二级引证文献12

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