贯彻MIL-STD-883C标准的集成电路老化测试系统
被引量：5
摘要
本文在介绍ＭＩＬ－ＳＴＤ－８８３Ｃ标准集成电路老化筛选试验方法的基础上，详细介绍了“ＰＩＣ－４集成电路高温动态老化实时测试系统”的设计过程，包括系统的总体结构、软硬件设计及其关键技术。
出处
《计算机自动测量与控制》
CSCD
1998年第1期27-30,共4页
Computer Automated Measurement & Control
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