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半导体器件失效分析的重要性及关键问题研究
被引量:
2
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摘要
本文对半导体器件失效分析的重要性及关键问题进行了阐述,认为失效分析对提高产品的可靠性具有非常重要的意义。失效分析的关键问题包括失效信息及失效数据的收集、失效预警及启动分析机制、信息反馈机制、专业技术及人员、善于总结,实现点到面的技术提升等方面。
作者
杨绸绸
机构地区
燕山大学信息科学与工程学院
出处
《科技创新导报》
2009年第10期4-4,共1页
Science and Technology Innovation Herald
关键词
半导体器件
失效分析
分类号
TN303 [电子电信—物理电子学]
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