X—荧火分析仪晶体表面处理实践被引量：1

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摘要引进日本的ＶＸＱ—１５０（Ａ）Ｘ荧光分析仪主要承担公司生铁、炉渣及原材料分析。使用十年来，在公司生铁及原材料分析方面起到了应有的作用。随着使用时间的延长，发现部分元素强度明显下降，经多方面分析与试验，发现造成该现象的主要原因是分析通道里的分光晶体表面...

作者董丽敏刘安春陈改明刘京训

机构地区安阳钢铁公司

出处《冶金标准化与质量》 1998年第5期20-21,44,共3页 Metallurgical Standardization & Quality

关键词 X荧光分析仪晶体表面处理

同被引文献3

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冶金标准化与质量

1998年第5期

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