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计算半导体合金介电常数的半经验方法

A SEMI-EMPIRICAL METHOD FOR CALCULATING THE DIELECTRIC CONSTANTS OF SEMICONDUCTOR ALLOYS
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摘要 提出了采用紧束缚方法计算电子联合状态密度,并利用由实验测得的半导体化合物MZ,NZ及NW的介电常数,计算半导体合金M_xN_(1-x)W_yZ_(1-y)的介电常数虚部的半经验方法,进而利用此方法具体地计算了与InP晶格匹配的Ga_xIn_(1-x)P_vAs_(1-y)的介电常数虚部。 A Semi-empirical method for calculating the dielectric constants of semiconduc-tor alloys M_xN_(1-x)W_yZ_(1-y) in terms of joint densities of electronic states computedin tight-binding approach and experimental data of dielectric constants of semicon-ductors MZ, NZ and NW is suggested. This method is applied to calculate theimaginary parts of dielectric constants of Ga_xIn_(1-x)P_yAs_(1-y) lattice-matched to InP.
作者 徐至中
出处 《复旦学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 1989年第3期255-259,共5页 Journal of Fudan University:Natural Science
基金 国家自然科学基金资助课题
关键词 半导体 合体 介电常数 紧束缚 方法 dielectric constant, band structure, refractivity, transition joint density of state, tight-binding method.
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