摘要
介绍了电子器件的粒子碰撞噪声检测(PIND)系统的结构以及工作原理。并通过长期应用PIND技术对大量电子器件的检验,列出在试验中频繁出现的几种典型的检测结果以及与之相对应的电子器件状态。对一些失效电路的误判和漏检问题给出了较为可靠的解决方案。
The operating principle of particle impact noise detection systems were introduced. We list some classical detection results and the corresponding states of electronic device, by detecting lots of the device using the technology of PIND. And we propose some some credible idea to improve the detection＇ s accuracy degree.
出处
《微处理机》
2009年第2期9-10,14,共3页
Microprocessors
关键词
粒子碰撞噪声检测
电子器件
失效电路
PIND（ particle impact noise detection）
Electronic device
Failure circuit
