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工业镀层及涂层厚度分析——同位素X射线荧光光谱法 被引量:3

Determination of Plating or Coating Thickness by Isotopic X_Ray Fluorescence Spectrometry
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摘要 采用自行研制的同位素X射线荧光分析仪,测定工业镀层和汽车涂层厚度,分析精度(RSD)分别达20%和36%,该法具有快速、简便、无损等优点。 Isotopic X_ray fluorescence spectrometer developed by the authors is used to determine the thickness of technical plating or automobile coating.Determination precisions are 20%and 36%,respectively.The method has the advantages of rapidity,simplicity and nondestructive analysis.
出处 《分析测试学报》 CAS CSCD 1998年第3期61-63,共3页 Journal of Instrumental Analysis
关键词 同位素 X射线荧光光谱 镀层 涂层 厚度 分析 Isotopic X_ray fluorescence spectrometer,Plating,Coating,Thickness
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