期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
JRC-490M型密封电磁继电器可靠性失效分析
被引量:
1
下载PDF
职称材料
导出
摘要
文章从试验角度对JRC-490M型密封电磁继电器的失效模式及失效机理作了分析,这些分析结果反馈到继电器的设计制造中,取得了较好的效果。
作者
隋文英
机构地区
电子工业部第
出处
《机电元件》
1998年第1期49-53,共5页
Electromechanical Components
关键词
继电器
可靠性
失效机理
密封电磁继电器
分类号
TM581.3 [电气工程—电器]
引文网络
相关文献
节点文献
二级参考文献
0
参考文献
0
共引文献
0
同被引文献
2
引证文献
1
二级引证文献
10
同被引文献
2
1
吕伟利,王长华.
用加速老化试验快速评估产品贮存可靠性的计算方法[J]
.电子产品可靠性与环境试验,1998,16(3):3-10.
被引量:4
2
翟国富,王淑娟,许峰,刘茂恺.
基于超程时间和吸合时间建模的继电器双变量寿命预测方法的研究[J]
.中国电机工程学报,2002,22(7):76-80.
被引量:34
引证文献
1
1
骆燕燕,王兴贵,陆俭国,李文华,王立忠.
电磁继电器贮存寿命预测理论与试验方案的研究[J]
.低压电器,2005(9):49-54.
被引量:10
二级引证文献
10
1
陆俭国,骆燕燕,李文华,孟凡斌,王立忠.
航天继电器贮存寿命试验及失效分析[J]
.电工技术学报,2009,24(2):54-59.
被引量:43
2
邵丹,李文华,王俊,王端阳,刘佳轩.
一种基于多参数的密封式电磁继电器贮存寿命预测方法[J]
.电器与能效管理技术,2015(1):12-16.
被引量:9
3
王召斌,尚尚,翟国富.
航天继电器贮存可靠性退化试验与评价方法研究[J]
.电器与能效管理技术,2015(8):1-7.
被引量:7
4
符赛,王召斌,尚尚.
继电器贮存失效机理及可靠性试验方法综述[J]
.电器与能效管理技术,2016(16):13-19.
被引量:5
5
肖阳,吕卫民,江式伟,申森.
导弹板级电子产品加速环境谱设计方法[J]
.战术导弹技术,2016(6):38-45.
被引量:2
6
李文华,马思宁,沈培根,王楠.
振动条件下铁路继电器寿命预测研究[J]
.电气工程学报,2017,12(7):8-15.
被引量:8
7
周一鸣,王茜,杨硕.
高原环境下多路开关模块加速寿命试验方案研究[J]
.环境技术,2017,35(4):52-56.
被引量:1
8
周一鸣,王茜,杨雷.
高原环境下多路开关模块加速寿命试验方案研究[J]
.电器与能效管理技术,2017(20):75-79.
9
林义刚,董宝旭,叶雪荣,丁新,翟国富.
继电器类单机加速贮存试验测试系统的设计与实现[J]
.电器与能效管理技术,2019,0(7):59-65.
被引量:4
10
陈康宁,王召斌,李朕,李维燕,尚尚.
继电器贮存可靠性评估与寿命试验方法综述[J]
.电器与能效管理技术,2020(12):1-6.
被引量:6
1
胡鸿滨.
电磁继电器触点的先断后合[J]
.机电元件,2005,25(2):46-49.
被引量:1
2
刘忠,林坚,游廷光.
JQX-43M小型低功耗大功率直流密封电磁继电器[J]
.机床电器,1999,26(1):49-50.
被引量:1
3
陈英华,任万滨,翟国富,崔黎.
军用密封电磁继电器整机振动特性仿真分析[J]
.低压电器,2007(13):1-4.
被引量:7
4
梁慧敏,王其亚,翟国富,崔黎,王立忠.
军用密封电磁继电器CAD系统的开发[J]
.低压电器,2006(7):15-19.
被引量:1
5
原维亮.
JRC-5M密封继电器断脚原因分析[J]
.机电元件,1994,14(2):1-4.
6
任万滨,崔黎,翟国富.
密封电磁继电器内部稳态温度场分析方法的探讨[J]
.机电元件,2006,26(3):3-7.
被引量:6
7
李子先,杨文英,唐娟,叶雪荣,王瑛琪.
基于故障树分析的密封电磁继电器贮存故障原因分析与诊断方法研究[J]
.电器与能效管理技术,2015(22):5-10.
被引量:6
8
张磊,黄俊才,杨剑,肖忠英.
空间真空环境下密封电磁继电器的触点失效研究[J]
.航天器环境工程,2012,29(3):320-322.
被引量:2
9
吴学廷,陈忠仁.
密封电磁继电器生产中的清洗技术探索[J]
.江南航天科技,2003(3):25-28.
10
蔡懿,谢锦黔.
TO─5型密封电磁继电器粘结故障失效机理分析[J]
.机电元件,1995,15(4):24-27.
被引量:1
机电元件
1998年 第1期
职称评审材料打包下载
相关作者
内容加载中请稍等...
相关机构
内容加载中请稍等...
相关主题
内容加载中请稍等...
浏览历史
内容加载中请稍等...
;
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部