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Ti-N化合物中氮的电子探针分析 被引量:4

ELECTRON PROBE MICROANALYSIS OF NITROGEN IN Ti-N COMPOUND BY DEDUCTING INTERFERENCE METHOD
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摘要 本文采用扣除干扰线强度方法解决了Ti-N化合物中氮的电子探针定量分析问题,为探针分析中处理同级X射线的互相干扰问题提供一种可行的方法。 An improvement by deducting interference method has been developed for treatingthe interference of the same order diffraction X-ray spectrum in electron probe microanalysis.The TiN compound was taken as an example of determination of nitrogen. The result showsthat the method is available.
出处 《金属学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1990年第2期B150-B152,共3页 Acta Metallurgica Sinica
关键词 Ti-N化合物 电子探针 分析 electron probe microanalysis deducting interference method nitrogen TiN
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