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系统LSI中存储器的测试方法

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摘要 系统LSI的存储器测试技术有直接存储器访问测试、高速直接存储器访问测试及内置自测试,几种方式各有优缺点,最好能加以组合应用。
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出处 《电子测试》 1998年第6期12-14,共3页 Electronic Test
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