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智能型半导体二极管测试分选机的研究 被引量:1

Study on an Intelligent Testing Sorter for Semiconductor Diodes
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摘要 介绍由单片机控制的智能型半导体二极管测试分选机.文章叙述了其硬件结构、测试原理及软件设计.该仪器能够在微机程序控制下测试二极管主要参数,并可实现自动分档.它不仅测试分选准确,而且工作速度快,可靠性好. This paper presents an intellingent tesing sorter for semiconductor diodes.It is controlled by a singleslice compater.The paper described the device's hardware structure,software design and testing principle.Under the control of program,the device can test the main parameters of diode and realize automatic sorting.It is not only very accurate,but also has higher work speed and better reliability.
作者 焦阳 徐桂芝
出处 《河北工业大学学报》 CAS 1998年第2期85-89,共5页 Journal of Hebei University of Technology
关键词 单片机 分选机 半导体二级管 Diode , Singleslice computer,Sorter
  • 相关文献

参考文献4

  • 1孙琢琏,计算机在仪器分析中的应用,1991年
  • 2杨适,B-B公司智能仪表产品手册,1988年
  • 3孙涌芳,MCS-51/96系列单片机的原理与应用,1988年
  • 4张善德,微型计算机系统的设计方法和接口技术,1985年

同被引文献3

引证文献1

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