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电容耦合三结单电子晶体管特性分析 被引量:1

Analysis of Capacitance Coupled Three Junction Single Electron Transistor Characteristics
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摘要 本文基于电容耦合多个纳米隧道结串联结构的半经典模型,研究了三结单电子晶体管的基本方程,分析了其I-V特性,并对三结与两结单电子晶体管的特性进行了比较.结果表明,单电子晶体管的特性与常规晶体管有很大的差别,且三结单电子晶体管与两结单电子晶体管相比较。 Abstract On the basis of semiclassical model for capacitance coupled nanometer tunneling junction array(NTJA), we study the basic equations for three junction single electron transistor (SET) and its I V characteristics, compare it with two junction SET. Our results indicate obvious differences between the characteristics of SETs and conventional transistor. Three junction SETs seem to have higher sensitivity and be able to resist stronger electromagnetic disturbance.
出处 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第8期603-608,共6页 半导体学报(英文版)
基金 国家自然科学基金
关键词 电容耦合 三结 晶体管 单电子晶体管 Electron tunneling Mathematical models
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