期刊文献+

SIT耐压容量的控制和工艺调节 被引量:4

Control on VoltageWithstandCharacteristics of Static Induction Transistor
下载PDF
导出
摘要 对静电感应晶体管(SIT)栅-漏、栅-源击穿电压的控制和工艺调节方法进行了探讨,对栅-源连通和栅-漏耐压的钳位问题进行了分析。 In this paper the general control principle and method on GD and GS breakdown voltages are reported and switchon of gatesource and clampon of gatedrain are analyzed also.
机构地区 兰州大学
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1998年第4期19-22,共4页 Semiconductor Technology
关键词 SIT 耐压 静电感应晶体管 制造工艺 Static induction transistor Voltagewithstand Control
  • 相关文献

同被引文献89

引证文献4

二级引证文献3

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部