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ICP-AES法测定工业硅中杂质含量
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摘要
研究了利用ICP-AES法测定工业硅中杂质元素Fe、Al、Ca的方法,建立了最佳工作条件,检出限小于0.003%,回收率在95-101%之间,RSD小于1%。方法简便快速,有好的精密度和准确度。
作者
杨晶秋
孙晓红
机构地区
机械科学研究院哈尔滨焊接研究所
出处
《中国新技术新产品》
2009年第16期18-18,共1页
New Technology & New Products of China
关键词
ICP—AES
工业硅
杂质元素
分类号
O657.31 [理学—分析化学]
TQ127.2 [化学工程—无机化工]
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