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铝合金用光电光谱仪分析干扰及其校正技术 被引量:1

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摘要 在光谱分析中,因第三元素影响引起的干扰易造成分析结果系统误差,但其大小又无法直接测量,这给光谱分析工作带来较多麻烦,本文就对可能存在的干扰及干扰的校正进行了较为全面的探讨。
作者 陈渝
机构地区 西南铝加工厂
出处 《铝加工》 CAS 1998年第4期55-60,共6页 Aluminium Fabrication
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