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铝合金用光电光谱仪分析干扰及其校正技术
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摘要
在光谱分析中,因第三元素影响引起的干扰易造成分析结果系统误差,但其大小又无法直接测量,这给光谱分析工作带来较多麻烦,本文就对可能存在的干扰及干扰的校正进行了较为全面的探讨。
作者
陈渝
机构地区
西南铝加工厂
出处
《铝加工》
CAS
1998年第4期55-60,共6页
Aluminium Fabrication
关键词
铝合金
光谱仪
干扰
发射光谱
光谱分析
分类号
TG146.21 [金属学及工艺—金属材料]
TG115.33 [金属学及工艺—物理冶金]
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铝加工
1998年 第4期
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