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并行处理提高测试分析仪器的动态范围和速度 被引量:3

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摘要 并行处理提高测试分析仪器的动态范围和速度*孟长虹王太勇房金卓曾子平(天津大学机械工程系天津300072)0引言目前,数字信号分析代替模拟信号分析已成为一种发展趋势。这就需要数字仪器仪表具有高性能的前向通道:既具备高动态范围,又具备高速度和高精度。为满...
出处 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第3期312-315,共4页 Chinese Journal of Scientific Instrument
  • 相关文献

参考文献3

  • 1孟长虹,硕士学位论文,1996年
  • 2孟长虹,Proceedings of 18th International Conference on Compu-ters & Industrial Engineering—ICC&IE’95,1995年,1159页
  • 3何立民,MCS-51系列单片机应用系统设计,1990年,641页

同被引文献8

引证文献3

二级引证文献3

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