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微型硅半导体低温温度计的特性与制作工艺 被引量:1

Characteristics and Making Technology of Miniture Silicon Diod Thermometers Used in Cryogenics
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摘要 论述了微型硅半导体低温温度计的各种优良特性,并运用电子材料及其工艺原理设计了一套保证其具有优良特性的制作工艺。通过测量可知,这种温度计在液氮温度下具有良好的复现性(<0.04K),且其电压信号与温度信号之间具有良好的线性关系,可望在低温工程中获得广泛的应用。 The paper is concerned with the good characteristics of the mini-silicon-diode thermometers used in cryogenics, and the making technology which ensures their good properties is designed according to the technology principle of the electric materials. It is proved by experiment that this kind of thermometer has a good reapitity(<0.04K) at the temperature of liquid nitrogen and accurate voltage-temperature linear relation. Therefore, their widespread application is requiring in the cryogenic engineering.
出处 《低温与超导》 CAS CSCD 北大核心 1998年第2期37-41,共5页 Cryogenics and Superconductivity
关键词 半导体 低温温度计 制作工艺 温度计 Silicon-diod,Miniture cryogenic thermometer,Characteristics, Making technology.
  • 相关文献

参考文献4

  • 1杜建通,硕士学位论文,1988年
  • 2吴裕远,Int Conf Energy saving in refrigeration,1986年,216页
  • 3蔡明忠,低温测温和量热技术,1984年,56页
  • 4团体著者(译),薄膜工艺,1980年,65页

同被引文献1

引证文献1

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