X射线衍射对Bragg定律的偏离及双晶衍射的“边缘效应”
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2朱南昌,周国良.GexSi1—x/Si应变层超晶格材料退火稳定性的X射线双晶衍射研究[J].科技通讯(上海),1994,8(3):8-13.
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3顾宏,夏冠群.白光快速退火注Si砷化镓的X—ray双晶衍射摇摆曲线分析[J].上海微电子技术和应用,1997(2):1-4.
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4陈海滨,周旗钢,万关良,肖清华.300mm双面磨削硅片损伤层厚度检测[J].稀有金属,2006,30(z1):50-54. 被引量:3