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半导体器件统计性成品率管理技术简述

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摘要 可在较短时间内分析出影响成品率的主要因素,有利于降低芯片成本,并在短期内实现批量投产。
作者 林泳
出处 《电子测试》 1998年第7期18-19,共2页 Electronic Test
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