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对薄膜磁化上的长距离效应的研究

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摘要 一个细小的网格图形让美国国家标准和技术研究院(NIST)和俄罗斯凝聚态物理研究所的材料学家在用于数据存储的电磁纳米结构上取得意外的发现。
作者 Jim Harrison
出处 《今日电子》 2009年第9期29-29,共1页 Electronic Products
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