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对薄膜磁化上的长距离效应的研究
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职称材料
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摘要
一个细小的网格图形让美国国家标准和技术研究院(NIST)和俄罗斯凝聚态物理研究所的材料学家在用于数据存储的电磁纳米结构上取得意外的发现。
作者
Jim Harrison
出处
《今日电子》
2009年第9期29-29,共1页
Electronic Products
关键词
距离效应
磁化
薄膜
美国国家标准
磁纳米结构
物理研究所
数据存储
材料学
分类号
TN141 [电子电信—物理电子学]
O484.1 [理学—固体物理]
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今日电子
2009年 第9期
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