可编程的电流负载在记忆体测试程序中的应用

半导体测试作为半导体产业链中非常重要的一环，贯穿于从开发设计到包装出厂的整个过程，其测试的精度和准确率对于半导体产品的成本起至关重要的作用。决定测试过程的因数很多，测试负载的选择对于产品的速度验证及测试良率极其重要，本文介绍了测试程序中电流负载的应用方法及问题的解决。