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紫外波段激光光刻用的VM型变焦距显微镜

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摘要 近年半导体器件的高集成化微细加工,对微米及亚微米的要求迅速发展,在显微镜下作业必须具备高分辨率和长工作距离的物镜,要求的波长不只局限在可见光,要向红外方向发展。
作者 吴秀丽
出处 《光机电信息》 1998年第8期26-30,共5页 OME Information
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