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智能交流接触器专用芯片系统的测试 被引量:1

Testing of the ASIC System of Intelligent AC Contactor
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摘要 介绍了一种自主开发的智能交流接触器专用芯片系统的测试情况。简单描述了智能交流接触器控制原理以及专用芯片的基本框架和应用系统,重点介绍了专用芯片的测试流程和相应流程的测试软件,并对整个系统进行了产品节能降耗性能测试。对CJ20-400接触器采用智能交流接触器专用芯片系统控制进行了全面的测试研究。 The testing of self-developed ASIC system for intelligent AC contactor was introduced. The control theory of intelligent AC contactor, basic framework and applications of the ASIC was described in brief. The testing flow of the ASIC system, the flow of testing software and the testing of the entire system energy-saving were expounded. It was tested and studied roundly that the CJ20-400 contactor was controlled by using the ASIC system.
出处 《低压电器》 北大核心 2009年第15期20-24,共5页 Low Voltage Apparatus
关键词 专用芯片 测试 交流接触器 application specific integrated circuit(ASIC) test AC contactor
  • 相关文献

参考文献6

  • 1耿英三,王建华,白浩博,姚建军,冯涛,戴鹏程.智能交流接触器专用芯片的开发[J].低压电器,2009(3):22-25. 被引量:3
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  • 3孙丽琼,耿英三,白浩博,高文乐,姚建军,冯涛.智能交流接触器仿真分析软件的开发与应用[J].低压电器,2007(17):20-23. 被引量:3
  • 4冯涛.电器智能化硬件系统的专用集成芯片构建与应用研究[D].西安:西安交通大学,2006.
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二级参考文献11

共引文献4

同被引文献9

引证文献1

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