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双极晶体管结温分布均匀性的一种判定方法 被引量:1

A METHOD OF JUDGING THE JUNCTION TEMPERATURE INHOMOGENEITY OF BIPOLAR TRANSISTORS
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摘要 分析了当双极晶体管结温分布不均匀时用ΔVBE法测得的温度与器件结温分布以及测量条件的关系,提出了一种快速判断双极晶体管结温分布均匀性的方法. The relationship between the junction temperature of bipolar transistors and the Apparent temperature which is measured by ΔV BE method is studied. Thus, a new method of judging the junction temperature inhomogeneity of bipolar transistors is provided.
机构地区 山东大学物理系
出处 《山东大学学报(自然科学版)》 CSCD 1998年第3期276-281,共6页 Journal of Shandong University(Natural Science Edition)
关键词 双极晶体管 结温分布 ΔVBE法 bipolar transistor ΔV BE method distribution of Junction temperature
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  • 相关文献

参考文献7

  • 1团体著者,GB/T 4587-94,中华人民共和国国家标准半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管,1994年,51页
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同被引文献3

引证文献1

二级引证文献4

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