微透镜阵列的计量标准化

原文传递

导出

摘要分析了连续表面微透镜阵列的几何参量和光学性能的检测方法，介绍了最新的ISO14480系列标准。针对典型的微镜阵列元件，给出其详细结构尺寸，从而建立了一套通过测试元件的几何参量、加工误差来综合评估微光学元件性能的方法。

作者胡凯蒋向前刘晓军

机构地区华中科技大学机械学院仪器系哈德斯菲尔德大学

出处《计量技术》 2009年第9期13-16,共4页 Measurement Technique

关键词微光学元件检测几何参数

参考文献5

1Daly DMicrolens Arrays[ M ]. London : Taylor and Francis ,2001.
2T Miyashita, Standardization for Microlenses and Microlens Arrays [ ]7. JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS.2007.
3赖建军,柯才军,陈四海,易新建.微透镜阵列的制作及其与图像传感器的集成[J].半导体光电,2004,25(3):183-187. 被引量：4
4A. Figueroa, P. Tsai, E. Bent, and R. Guo. Robust Spots Finding in Microarray Images with Distortions. Proc. 30th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society ( EMBC08), Vancouver, BC, Canada, August 2008 : 1339 - 1342.
5戴亚文,王三武,李金龙.基于图像处理技术复杂仪表的自动识别[J].计量技术,2003(12):33-35. 被引量：16

1章毓晋.图像分割[M].北京:科学出版社,2001.34.
2Itakura K. A 1 mm 50 k-pixel IT CCD image sensor for miniature camera system [J]. IEEE Trans.Electron Devices, 2000, 47(1): 65-69.
3Furumiya M. A 1/3-in 1. 3 M-pixel single-layer electrode CCD with a high-frame-rate skip mode[J].IEEE Trans. Electron Devices, 2001, 48 (9): 1 915-1 921.
4Van Kuijk H C.Sensitivityimprovementin progressive scan FT-CCDs for digital still cameraapplications[J]. IEDM, 2000: 689-692.
5Hojo J. A 1/3-in 510(H) ×496(V) image sensor with mirror image function [J]. IEEE Trans. Electron Devices, 1991, 38(5): 954-959.
6赫尔齐克H 微光学.元件、系统和应用[M].北京:国防工业出版社,2002..
7高天芳,孔凡让,余涛,刘志刚,冯志华,王建平,张平.非电子仪表的一种计算机判读和处理系统[J].中国科学技术大学学报,1999,29(6):691-695. 被引量：6
8杨国光,沈亦兵,侯西云.微光学技术及其发展[J].红外与激光工程,2001,30(4):157-162. 被引量：10
9尤政,李涛.CMOS图像传感器在空间技术中的应用[J].光学技术,2002,28(1):31-35. 被引量：46

计量技术

2009年第9期

内容加载中请稍等...