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超大规模集成电路生产环境空气含尘浓度的预测
被引量:
3
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摘要
本文为了适应21世纪初期超大规模集成电路发展的需要,提出了预测空气含尘浓度的方法。建立了空气含尘浓度C和空气粒子最大允许值E之间的关系式,计算出和IC集成度相对应的圆片加工区的空气含尘浓度C值。
作者
王毅勃
王唯国
机构地区
电子工业部第十一设计研究院
出处
《洁净与空调技术》
1998年第3期10-13,共4页
Contamination Control & Air-Conditioning Technology
关键词
大规模集成电路
洁净室
空气含尘浓度
预测
分类号
TU834.86 [建筑科学—供热、供燃气、通风及空调工程]
TU834.854 [建筑科学—供热、供燃气、通风及空调工程]
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洁净与空调技术
1998年 第3期
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