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超大规模集成电路生产环境空气含尘浓度的预测 被引量:3

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摘要 本文为了适应21世纪初期超大规模集成电路发展的需要,提出了预测空气含尘浓度的方法。建立了空气含尘浓度C和空气粒子最大允许值E之间的关系式,计算出和IC集成度相对应的圆片加工区的空气含尘浓度C值。
出处 《洁净与空调技术》 1998年第3期10-13,共4页 Contamination Control & Air-Conditioning Technology
  • 相关文献

参考文献3

  • 1集成电路生产中洁净室系统时主要趋向. 严德隆.
  • 2对90年代我国洁净技术进一步发展的看法.严德隆
  • 3洁净级别预测.王唯国,王毅勃.

同被引文献5

引证文献3

二级引证文献6

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