用电测复膜法研究在σp0.01水平下非比例伸长的物理本质
STUDY ON THE ESSENTIAL PHYSICAL QUALITY OF NON-LINEAR DEFORMATION OF METALLIC MATERIALS UNDER σp0.01 CONDITION BY ELECTRO-MEASUREMENT AND COVERING FILMS METHOD
出处
《理化检验（物理分册）》
CAS
1990年第4期26-27,6,共3页
Physical Testing and Chemical Analysis(Part A:Physical Testing)
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