珠光体层片平均真间距的SEM直接法测量
被引量：1
出处
《理化检验（物理分册）》
CAS
1990年第4期39-40,共2页
Physical Testing and Chemical Analysis(Part A:Physical Testing)
同被引文献1
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1G. F. Vander Voort et al, metallography, 1984; 17: 1-17.
二级引证文献4
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