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微电子所开发成功超临界二氧化碳无损伤清洗设备

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摘要 目前.微电子所集成电路先导工艺中心自主研发成功超临界二氧化碳无损伤清洗设备。应用此设备对硅片进行清洗,清洗后颗粒明显减少,且平均粒径小于传统清洗的粒径。相对用等离子法清洗,该方法不会对硅片造成损伤,同时可减少工艺步骤,节省时间,提高工作效率。
出处 《精细与专用化学品》 CAS 2009年第19期12-12,共1页 Fine and Specialty Chemicals
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