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可靠性评估中指数型数据向成败型数据的折合
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摘要
本文讨论了在复杂产品可靠性评估过程中经常遇到的可靠性串、并联模型下指数型试验数据折合为成败型等效数据的方法,包括了同级别折合和低级别向高级别的折合,并给出了这些方法的推导过程。
作者
朱三可
李祥臣
齐俊臣
彭道勇
机构地区
北京清河大楼子八
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2009年第B10期167-169,共3页
Electronic Product Reliability and Environmental Testing
关键词
可靠性评估
数据折合
指数分布
分类号
TB114.3 [理学—概率论与数理统计]
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电子产品可靠性与环境试验
2009年 第B10期
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