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可靠性评估中指数型数据向成败型数据的折合

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摘要 本文讨论了在复杂产品可靠性评估过程中经常遇到的可靠性串、并联模型下指数型试验数据折合为成败型等效数据的方法,包括了同级别折合和低级别向高级别的折合,并给出了这些方法的推导过程。
出处 《电子产品可靠性与环境试验》 2009年第B10期167-169,共3页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing
  • 相关文献

二级参考文献5

  • 1范大茵,数学的实践与认识,1987年,1期
  • 2梅启智,系统可靠性工程基础,1987年
  • 3黄柏琴,宇航学报,1987年,2期,62页
  • 4周源泉,质量与可靠性,1987年,2期,30页
  • 5匿名著者

共引文献12

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