期刊文献+

深度黑盒型设备贮存寿命评估方法研究

下载PDF
导出
摘要 本文提出一种基于深度黑盒型设备内部典型元器件的寿命特征和性能退化规律,评估其贮存寿命的方法。即将黑盒型设备分解成元器件,通过对随设备长期贮存的典型元器件进行寿命特征诊断,针对寿命特征良好的元器件再开展加速退化试验,掌握其关键性能参数的退化规律,评估深度黑盒型设备的贮存寿命。
出处 《电子产品可靠性与环境试验》 2009年第B10期193-197,共5页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing
  • 相关文献

参考文献2

二级参考文献1

共引文献4

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部