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深度黑盒型设备贮存寿命评估方法研究
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摘要
本文提出一种基于深度黑盒型设备内部典型元器件的寿命特征和性能退化规律,评估其贮存寿命的方法。即将黑盒型设备分解成元器件,通过对随设备长期贮存的典型元器件进行寿命特征诊断,针对寿命特征良好的元器件再开展加速退化试验,掌握其关键性能参数的退化规律,评估深度黑盒型设备的贮存寿命。
作者
程德斌
张子华
机构地区
工业和信息化部电子第五研究所
中航工业第
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2009年第B10期193-197,共5页
Electronic Product Reliability and Environmental Testing
关键词
黑盒
设备
贮存
寿命
评估
分类号
TN606 [电子电信—电路与系统]
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电子产品可靠性与环境试验
2009年 第B10期
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