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赛默飞世尔科技推出全新IPIus测量和控制平台

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摘要 2009年8月27日,赛默飞世尔科技近日发布了一款全新的测量平台-ThermoScientificIPlus!。它可准确测量流延薄膜、挤出片材、无纺布、压延薄膜和挤出涂布等产品的定量或厚度。
出处 《自动化信息》 2009年第9期16-16,共1页 Automation Information

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