期刊文献+

边界扫描测试优化算法 被引量:5

Boundary Scan Test Optimization Algorithm
下载PDF
导出
摘要 分析全0(1)+01(10)并行序列算法、极大权值极小相异性算法、自适应完备诊断算法和遗传算法4种边界扫描测试生成算法,对比其各自的优缺点。通过DEMO板互连测试,对比测试时间和紧凑性指标,结果表明遗传算法是相对最优的算法,能生成具有抗征兆误判能力且紧凑性较好的测试矢量。 This paper analyses four boundary-scan test generation algorithms,including all 0(1)+01(10) parallel sequence algorithm,minimum weight and maximum dissimilarity algorithm,adaptive complete diagnosis algorithm and genetic algorithm,compares the advantage and disadvantage of each algorithm.It contrasts the test time and compact test vector through DEMO board interconnection test.Result shows that genetic algorithm is the relative best algorithm,it can generate well compactness test vector with the capacity of anti-signs miscarriage of justice.
出处 《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2009年第20期255-257,共3页 Computer Engineering
关键词 可测试性设计 边界扫描 测试算法 design for testability boundary scan test algorithm
  • 相关文献

参考文献4

二级参考文献9

  • 1IEEE Stand Test Access Port and Boundary Scan Architecture[S].IEEE Std 1149.1-2001,IEEE computer Society,2001
  • 2陈光(礻禹).可测性设计技术[M].北京:电子工业出版社,1997..
  • 3温熙森,等著.智能机内测试理论与应用.北京:国防工业出版社.2002.87-132.
  • 4P Goel and M T McMahon. Electronic Chip in-place Test.Intl Test Conf. 1982. 83~90.
  • 5P T Wagner. Interconnect: Testing With Boundary Scan.Intl Test Conf. 1987. 52~57.
  • 6A Hassan, J Rajski and V K Agarwal. Testing and Diagnosis of Interconnects using Boundary Scan Architecture.Intl Test Conf. 1988. 126~137.
  • 7Chi W Yau and Najmi Jarwala. A unified theory for designing optimal test generation and diagnosis algorithms for board interconnects. Intl Test Conf. 1989. 71~77.
  • 8胡政,黎琼炜,温熙森.边界扫描测试向量生成的抗混迭算法[J].电子测量技术,1998,21(1):8-12. 被引量:14
  • 9胡政,钱彦岭,温熙森.边界扫描测试优化算法——极小权值-极大相异性算法[J].测控技术,2000,19(9):9-11. 被引量:9

共引文献2

同被引文献29

引证文献5

二级引证文献18

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部