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光谱仪分析试样精确定位装置

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摘要专利号：200820066221.9 专利权人：武汉钢铁（集团）公司一种光谱仪分析试样精确定位装置，其特征是该定位装置由两块透明材质制成的试样定位板构成，每块试样定位板表面标注有同样的水平和垂直的刻度线，在每块试样定位板的相同的位置设有多个和光谱仪不同直径的阳极相对应的小孔，

出处《武钢技术》 CAS 2009年第5期22-22,共1页 Wisco Technology

关键词分析试样定位装置光谱仪定位板专利权人专利号刻度线

分类号 TN307 [电子电信—物理电子学] TM862 [电气工程—高电压与绝缘技术]

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武钢技术

2009年第5期

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