期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
Mentor芯片测试方案获联电65/40纳米制程认证
下载PDF
职称材料
导出
摘要
Mentor Graphics宣布其硅芯片测试与诊断方案已经获得晶圆代工大厂联电认证,可运用于联电的65与40纳米参考流程。该硅芯片测试流程的基础是TestKompress自动化测试向量产生解决方案,可以最低测试成本达成更高测试质量。
出处
《中国集成电路》
2009年第10期9-9,共1页
China lntegrated Circuit
关键词
纳米制程
芯片测试
测试方案
认证
GRAPHICS
晶圆代工
诊断方案
参考流程
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TP332 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
引文网络
相关文献
节点文献
二级参考文献
0
参考文献
0
共引文献
0
同被引文献
0
引证文献
0
二级引证文献
0
1
联电采用Mentor Graphics的TestKompress解决方案[J]
.电子产品世界,2005,12(05A):138-138.
2
思博伦推出语音、数据、定位服务互操作诊断方案[J]
.世界电信,2010(12):80-80.
3
联电与ARM携手并进28纳米制程世代[J]
.中国集成电路,2011,20(11):12-12.
4
IBM抢单台湾晶圆代工失势双雄依旧风光[J]
.电子工业专用设备,2005,34(11):23-23.
5
中芯推出低功耗IC实现参考流程[J]
.世界电子元器件,2007(11):12-12.
6
ams推出专为物联网应用优化的传感器技术[J]
.单片机与嵌入式系统应用,2015,15(6):88-88.
7
东芝将与联电分食赛灵思先进工艺芯片订单[J]
.电子测试(新电子),2006(1):89-89.
8
UMC设计实现平台新增设计验证功能[J]
.中国集成电路,2015,24(8):11-11.
9
阮利江.
数字电视信号的特点、测试与诊断方法[J]
.科技创新导报,2012,9(27):138-138.
10
高海霞,张弘.
低功耗测试向量产生技术的研究[J]
.微电子学与计算机,2009,26(1):213-216.
被引量:1
中国集成电路
2009年 第10期
职称评审材料打包下载
相关作者
内容加载中请稍等...
相关机构
内容加载中请稍等...
相关主题
内容加载中请稍等...
浏览历史
内容加载中请稍等...
;
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部