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Mentor芯片测试方案获联电65/40纳米制程认证

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摘要 Mentor Graphics宣布其硅芯片测试与诊断方案已经获得晶圆代工大厂联电认证,可运用于联电的65与40纳米参考流程。该硅芯片测试流程的基础是TestKompress自动化测试向量产生解决方案,可以最低测试成本达成更高测试质量。
出处 《中国集成电路》 2009年第10期9-9,共1页 China lntegrated Circuit
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