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ICP-AES法测定三氯氢硅中七种杂质 被引量:1

Determination of seven impurity elements in trichlorosilane by ICP-AES
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摘要 本文建立三氯氢硅中钙、镁、铜、铁、铝、硼和磷的电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)测定方法。方法的检出限为0.00~0.018μg/mL,回收率为92%~109%,相对标准偏差(RSD)为1.28% ~4.65%。该方法很实用,结果令人满意。 A method for determination of Ca, Mg, Cu, Fe, Al, B and P in Trichlorosilane by ICP-AES is presented in this paper. The detection limit was 0.001-0.018μg/mL. The recoveries were 92%-109%. The relative standard deviations(RSDs) were 1.28%-4.65%.The method was very useful and with satisfactory results.
出处 《现代仪器》 2009年第5期54-55,共2页 Modern Instruments
关键词 ICP-AES 三氯氢硅 杂质 ICP-AES Trichlorosilane Determination of impurity elements
  • 相关文献

参考文献2

二级参考文献5

  • 1.GB/T14849-93.工业硅化学分析方法,铁、铝、钙含量的测定[S].,..
  • 2.GB2881-91.工业硅技术条件[S].,..
  • 3.GB/T 14849-93工业硅化学分析方法[M].北京:中国标准出版社,1993..
  • 4WingeRK FasselVA PetersonVJetal.电感耦合等离子体发射光谱图册[M].北京:中国科学出版社,1986..
  • 5.GB6379-89测试方法的精密度通过实验室间试验确定标准测试方法的重复性和再现性[M].北京:中国标准出版社,1989..

共引文献22

同被引文献10

引证文献1

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