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基于谢宁DOE的背光灯片内部短路侦测研究 被引量:1

Research on Electroluminescent Lamp Inner Short Circuit Detection Based on Shainin DOE
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摘要 谢宁试验设计方法是目前广泛使用的,具有代表性的试验设计方法之一。采用谢宁试验设计的成对(组)比较技术,结合图基检验的方法,针对背光灯片"内部短路"缺陷难以侦测的问题,构建了具体的具有实际操作性的检验侦测手段,并通过实例验证了该方法的有效性。 Shainin DOE is one of the typical and widely used experimental design technologies which are applied to various circumstances. This article uses Shainin DOE methodology to carry out Paired Comparison and combine Tukey Test verification. Aiming at the difficult questions of lamp's inner short circuit detection, this paper establishes the practicable measurement and detection methods. The experiment proves that the method is effective.
出处 《机械制造与自动化》 2009年第5期129-132,152,共5页 Machine Building & Automation
关键词 谢宁试验设计 成对(组)比较技术 图基检验 背光灯片 内部短路 Shainin experimental design Paired Comparison Tukey Test electroluminescent lamp inner short circuit
  • 相关文献

参考文献4

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  • 2Case Studies, Red X @ Holding LLC ; www. shainin, com.
  • 3David Moore. Identifying sources of solder defects in printed circuit assemblies incorporating ball grid array packages; surface mount international, 1998,.
  • 4李逵,张志英.谢宁实验设计应用研究[J].河北工业科技,2008,25(4):200-202. 被引量:4

二级参考文献2

共引文献3

同被引文献6

引证文献1

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