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一种新的基于c/v的微电容的检测方法

A New Approach of Micro-capacitor Measurment Based on Conver- sion of Capacitances and Voltages
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摘要 论文分析了传统及现有小电容检测方法存在的问题,基于C/V电容检测的基本原理,提出了一种新的基于C/V的微电容的检测方法,设计了一个简易的微电容运算放大器检测电路。根据电路模型分析和仿真测试结果表明,该电路具有抗杂敦电容干扰强、灵敏度高、容易实现无损在线检测、成本低等优点。 in this Paper, some of techniques for measuring of small capacitance are briefly discussed. A kind of simple operational amplifier circuit is designed on the basic principle of Conversion of Capacitances and Voltages (C / V) to detect the micro-capacitor. Based on analysis on capacitance detection of the circuit model and simulation test results given, It is shown that a circuit of micro-capacitor measurment based on C / V is of high sensitivity and low cost and easy for realization.
机构地区 四川理工学院
出处 《数字技术与应用》 2009年第10期19-21,共3页 Digital Technology & Application
基金 本文研究工作得到国家高技术研究发展计划(863计划)第四批课题,(2008AA11A134)基金的部分资助
关键词 微电容 线性 检测电路 杂散电容 micro-capacitance Linear detecting circuit Stray capacitance
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