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InAs薄膜Hall器件 被引量:1

InAs Thin Film Hall Elements
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摘要 利用分子束外延(MBE)生长的高迁移率InAs外延层成功制备了的薄膜Hal器件。这种Hal器件具有灵敏度高、温度特性好等优点。室温下的积灵敏度和电压相关的灵敏度分别为11mV/mA·kGs和40mV/V·kGs(灵敏度比相同掺杂的GaAsHal器件高50%)。在(20~70)℃温度区域内,内阻温度系数和Hal电压温度系数分别为8×10-4/℃,-2×10-3/℃(恒流驱动)和-3×10-3/℃(恒压驱动)。 High-performance InAs thin film Hall elements(sensors)with high sensitivity low temperature coefficients are developed.The product sensitivity and voltage-related sensitivity of this Hall elements are as large as 11 mV/mA ·kGs and 40 mV/V ·kGs respectively.These values are 50% larger than the standard GaAs Hall elements at the same driving condition.The resistance temperature coefficient and Hall voltage coefficient are 8×10 -4 /℃,-2×10 -3 /℃(current-drive) and -3×10 -3 /℃(voltage-drive)respectively.
出处 《传感器技术》 CSCD 1998年第5期19-21,共3页 Journal of Transducer Technology
关键词 霍尔器件 积灵敏度 电压相关 电阻温度系数 Hall elements Product sensitivity Voltage-related Resistance temperature coefficient
  • 相关文献

参考文献2

  • 1黄复星,电子工业生产手册,1993年,822页
  • 2秦起佑(译),传感器电子学,1987年,113页

同被引文献7

引证文献1

二级引证文献1

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