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国际无损检测工作组会议通知
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摘要
诚邀您参加2010年2月1～3日在HolidayInnAtriumSingapore（新加坡）举办的国际元损检测工作组会议（IWNDT）。此次会议的目的是对无损检测最新发展的交流和互动，以及无损检测最新技术的展示。
作者
W S Gan
Brian Stephen Wong
机构地区
新加坡声学学会
科学委员会
新加坡无损检测学会
出处
《无损检测》
2009年第11期923-923,共1页
Nondestructive Testing
关键词
无损检测
工作组
国际
元损检测
最新技术
新加坡
分类号
TG115.28 [金属学及工艺—物理冶金]
TP393.1 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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无损检测
2009年 第11期
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