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第一块硅片的调试

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摘要 自动设备的特性为设计者提供了更加容易。
机构地区 JACK FROST Integrated Measurement Systems
出处 《今日电子》 1998年第10期15-16,共2页 Electronic Products
关键词 硅片 调试 ASIC 设计 集成电路
分类号 TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学] TN304.12 [电子电信—物理电子学]
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今日电子
1998年 第10期

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