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一种电路故障诊断的测试优化方法
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摘要
在电路故障测试中,无论是人工测试还是自动测试,如何以最少的测试次数,找到故障源点是急待解决的问题。为了提高单故障可及性电路故障测试的有效度,减少测试次数,本文从信息论的角度来分析电路故障测试的过程,提出了故障熵,和故障信息量的概念,同时提出了电路故障测试的一种优化方法,并将其运用于实际的电路故障测试优化中。
作者
邓斌
熊记宁
侯耀清
机构地区
空军雷达学院
空军驻华中地区军代表室
出处
《21世纪(理论实践探索)》
2009年第11期146-147,共2页
The tuenty-first century
基金
空军军事计量计划项目资助(N0 20053432205)
关键词
电路测试
故障诊断
熵
分类号
G201 [文化科学—传播学]
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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21世纪(理论实践探索)
2009年 第11期
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