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SN74ACT8990芯片在数字电路测试中的应用 被引量:1

Applications of SN74ACT8990 in Digital Circuits Test
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摘要 SN74ACT8990作为测试总线控制器,主要用于测试数据的交互,是基于边界扫描技术的数字电路测试的核心部件;为了解决上述新兴测试技术在实际应用方面研究的不足,首先介绍了芯片的功能、基本结构以及工作原理;从硬件电路和程序设计两个方面,分别详细地介绍了一个典型的基于SN74ACT8990边界扫描测试系统的设计方法及过程;最后利用测试指令扫描和互连测试对设计的测试系统进行了功能验证;结果表明,在数字电路测试中,采用基于SN74ACT8990的边界扫描技术能够准确地定位故障,并能初步判断故障类型,具有较高的测试效率和广阔的应用前景。 SN74ACT8990 is a test bus controller used for the interaction between test data, and is the chief part of a boundary--scan based test of digital circuits. Taking the new test technology' s deficiency of the practicality application into account, the chip' s functions, basic structure and application principles are presented. Secondly, a SN74ACT8990 based boundary--scan test system' s design is separately introduced from the hardware to software. At last, a test instruction scan and a interconnection test are used to verify the test system. The results indicate that the SN74ACT8990 based boundary--scan test technology embodied with higher test efficiency can locate the faults exactly, can identify the faults' type and can be widely applied in the test of digital circuits.
机构地区 装甲兵工程学院
出处 《计算机测量与控制》 CSCD 北大核心 2009年第11期2109-2111,2114,共4页 Computer Measurement &Control
基金 国家自然科学基金(60871029)
关键词 SN74ACT8990 边界扫描 测试总线控制器 指令测试 互连测试 SN74ACT8990 boundary scanl test bus controller instruction test interconnection test
  • 相关文献

参考文献4

二级参考文献6

  • 1徐建洁,李岳,胡政.边界扫描测试系统软件设计与实现[J].计算机测量与控制,2006,14(7):975-977. 被引量:6
  • 2胡政,电子测量技术,1998年,1期
  • 3胡政,电子测量技术,1997年,3期
  • 4陈光禹,可测性设计技术,1997年
  • 5何善强(译),布尔矩阵理论及其应用,1987年
  • 6IEEE Standard 1149.1-2001,IEEE Standard Test Access Port and Boundary-scan Architecture[S].IEEE,2001.

共引文献12

同被引文献9

引证文献1

二级引证文献2

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