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Microchip推出能够实现高度精确测量的计量模拟前端器件（AFE）
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摘要
Microchip Technology Inc．（美国微芯科技公司）宣布推出面向计量应用的新一代模拟前端器件（AFE）。
出处
《单片机与嵌入式系统应用》
2009年第12期86-86,共1页
Microcontrollers & Embedded Systems
关键词
MICROCHIP
模拟前端
精确测量
器件
计量
美国微芯科技公司
INC
分类号
TP242.6 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
TN929.533 [电子电信—通信与信息系统]
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单片机与嵌入式系统应用
2009年 第12期
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