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2009集成电路测试技术研讨峰会在上海成功召开
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摘要
2009年11月11日,由中国电子学会和中国电子器材总公司联合主办的"第74届中国(上海)电子展第十三届国际电子测试与测量专业研讨会暨2009集成电路测试技术研讨峰会"在上海新国际博览中心隆重召开。
出处
《电子测量与仪器学报》
CSCD
2009年第11期115-116,共2页
Journal of Electronic Measurement and Instrumentation
关键词
上海新国际博览中心
集成电路测试
技术研讨
中国电子学会
电子测试
测量专业
电子器材
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
F752.1 [经济管理—国际贸易]
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