摘要
聚酰亚胺(PI)/无机纳米杂化材料具有良好的电绝缘性、优异的机械性能以及高耐热等特性,广泛地应用于电气电子领域。本文利用同步辐射小角X射线散射(SAXS)技术对聚酰亚胺纳米杂化薄膜(Al2O3/PI)进行微观结构分析,结合透射电子显微镜(TEM)测试的结果,研究了杂化薄膜中无机纳米颗粒的特性。研究结果表明,无机纳米颗粒尺寸约为4–7nm,纳米颗粒与基体之间具有明锐的界面,薄膜体系分形维数为2.48。
Inorganic nanohybrid polyirnide （PI） has wide applications in electric and electronics for its outstanding insulating, mechanical and heat-resistance properties. Al2O3/PI nanohybrid films of 100CR （Dupont）, with excellent corona-resistance, were characterized by synchrotron radiation small angle X-ray scattering （SAXS） and transmission electric microscopy （TEM）. The results show that the inorganic particles are 4-7 nm in size. The interface between nanoparficles and matrix is sharp. Fractal dimension of the film is 2.48.
出处
《核技术》
CAS
CSCD
北大核心
2009年第12期901-904,共4页
Nuclear Techniques
基金
国家自然科学基金(50677009)资助
