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数字电路测试方法研究

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摘要 随着数字电路集成度和复杂度的提高,越来越多的数字电路设计采用基于IP核的设计方法,必须采用DFT技术才能解决系统芯片的测试问题。扫描技术和边界扫描技术是目前可测试性设计的主流技术,可分别用来解决芯片内部与芯片之间的可测试性问题。
作者 张存博
出处 《大众商务(下半月)》 2009年第12期287-287,共1页 popular business
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