数字电路测试方法研究

随着数字电路集成度和复杂度的提高，越来越多的数字电路设计采用基于IP核的设计方法，必须采用DFT技术才能解决系统芯片的测试问题。扫描技术和边界扫描技术是目前可测试性设计的主流技术，可分别用来解决芯片内部与芯片之间的可测试性问题。