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数字电路测试方法研究
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摘要
随着数字电路集成度和复杂度的提高,越来越多的数字电路设计采用基于IP核的设计方法,必须采用DFT技术才能解决系统芯片的测试问题。扫描技术和边界扫描技术是目前可测试性设计的主流技术,可分别用来解决芯片内部与芯片之间的可测试性问题。
作者
张存博
机构地区
西北民族大学电气工程学院
出处
《大众商务(下半月)》
2009年第12期287-287,共1页
popular business
关键词
DFT
功能点测试
边界扫描
分类号
TM13 [电气工程—电工理论与新技术]
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大众商务(下半月)
2009年 第12期
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